电子元器件失效率试验的种类都有哪些？来了解一下。

电子元器件失效率是考核其寿命或可靠性水平的一种定量的指标。电子元器件的可靠性试验就是电子元器件的失效率试验。为确定产品的失效率而进行的寿命试验称为失效率试验。

这种试验主要用于其寿命能合理地认为是服从指数分布，在本质上是同一设计，建立了可靠性与质量管理的批量产品和连续生产的产品。

就是说，用这种方法对产品的失效率进行验证时，生产管理应该是严格的，生产过程比较稳定，生产批次之间变化较小。

这样，在累积数据的前提下，可以逐步保证产品有较高的可靠度等级。通常失效率试验分为定级试验、维持试验、升级试验三种。

1、定级试验

为首次确定产品的失效率等级而作的试验，或在某一失效率等级的维持和升级试验失败后，对产品重新确定其失效率等级而进行的试验称为定级试验。

2、维持试验

为证明产品的失效率等级仍不低于定级试验或升级试验后所确定的失效率等级而进行的试验称为维持试验。

3、升级试验

为证明产品的失效率等级比原定的失效率等级更高而进行的试验称为升级试验。

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