根据振动三综合测试机构的阐述，振动 试验主要有四种，即扫频振动试验、振动疲劳试验，振动噪声试验和随机振动试验。目的是考核微电路在不同振动条件下的结构牢固性和电特性的稳定性。
1.扫频振动试验使微电路作等幅谐振动，其加速度峰值一般分为196m／s：(20e)、490m／s2(50g)和686m/s2(70g)三档．振动频率从20Hz一2000Hz范围内随时间校对数变化。振动频率从20Hz~2000Hz再回到20Hz的时间要求不小于4mm，并且在互相垂直的三个方向上(其中一个方向与芯片垂直)各进行五次。
2.振动疲劳试验也要使微电路作等幅谐振动，但是其振动频率是固定的，一般为几十到几百赫兹，其加速度峰值一般也分为196m／s2(20g)、490m／s2(50g)和686m／s2(70g)三档。在互相垂直的三个方向上(其中一个方向与芯片垂直)各进行一次，每次的时间大约为32h。
3.振动噪声试验的试验条件与扫颇振动试验基本相同。使微电路作等幅谐振动，其加速度峰值一般不小于196m／s2(20g)．振动频率从20Hs一2000Hz范围内随时间按对数变化．振动频率从20Hz一2000Hz再回到20Hz的时间要求不小于4min，并且在互相垂直的三个方向上(其中一个方向与芯片垂直)各进行1次。
4.随机振动试验的试验条件是模拟各种现代化现场 环境下可能产生的振动。随机振动的振幅具有高斯分布。加速度谱密度与频率的关系是特定的。频率范围为几十到2000Hz。
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